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集成電路引線彎曲試驗(yàn)儀主要用于測定集成電路產(chǎn)品、IC芯片、電子元器件及設(shè)備物理性能試驗(yàn)中引線涂覆層附著力檢測以及引腳在拉力、彎曲、扭轉(zhuǎn)三種作用力下的形變狀態(tài)。
儀器概述：
集成電路引線彎曲試驗(yàn)儀滿足GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造；主要用于測定集成電路產(chǎn)品、IC芯片、電子元器件及設(shè)備物理性能試驗(yàn)中引線涂覆層附著力檢測以及引腳在拉力、彎曲、扭轉(zhuǎn)三種作用力下的形變狀態(tài)。
集成電路引線彎曲試驗(yàn)儀性能指標(biāo)：
1.拉力試驗(yàn)：手動(dòng)垂直加載砝碼；
2.拉力加載時(shí)間：0～999s內(nèi)連續(xù)可調(diào)；
3.彎曲試驗(yàn)：每次對一根引線彎曲；
4.彎曲角度：0～90°可調(diào)，精度：±2°；
5.動(dòng)作周期：1s～10s/次（彎曲角度：30°、45°、90°時(shí)），精度：±3%；
6.彎曲次數(shù)：1～999次；精度：±1次；
7.扭轉(zhuǎn)：可連續(xù)扭轉(zhuǎn)180°；精度：±2°；
8.加載砝碼：0.5N、1N 、1.25N 、2.5N、5.0N、10N、20N、40N八個(gè)；精度：± 1％；（可據(jù)用戶要求定制，操作方法以常用砝碼說明）；
9.動(dòng)力源：步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng);
10.控制器：PLC智能程序控制;
11.顯示和操作:7寸彩色觸摸屏
12.試驗(yàn)工位：單工位測試；
13.通訊接口：RS232通訊；
14.其他功能：具備斷電記憶（部分參數(shù)），出錯(cuò)/結(jié)束報(bào)警等人性化功能；
15.外形尺寸：約580L*350W*680H(mm);
16.設(shè)備電源：220V±10%，50/60Hz±2Hz.。
